La secció Catalana de Metrologia realitza una xerrada dins les tertúlies cientificotècniques de la UPC sobre les noves definicions del SI el pròxim 2 de desembre de 2021.
Xerrada a càrrec d’Albert Garcia de la UPC Vilanova, en el marc del cicle de tertúlies cientificotècniques.
Per més informació seguiu aquest enllaç.
Us convidem a assistir al seminari sobre la guia sobre regles de decisió i declaració de la conformitat (ILAC G8), en la nova edició del 2019, i els documents que li donen suport científic. El seminari tindrà lloc el 3 d’abril de 2020 a la seu de l’Institut d’Estudis Catalans (c. del Carme, 47, de Barcelona).
La finalitat del seminari és explicar les variacions principals del document, completar l’exposició amb informació addicional derivada del que expliquen els documents bàsics, i analitzar-lo des del punt de vista del metròleg.
El programa del seminari és:
| 9.30-10.00 h | – | Recepció |
| 10.00-10.15 h | – | Benvinguda |
| 10.15-12.00 h | – | Introducció, canvis en la ILAC G8 i documents de suport |
| 12.00-12.30 h | – | Refrigeri |
| 12.30-13.00 h | – | Taula rodona i torn obert de paraules |
| 13.00-13.15 h | – | Finalització del seminari |
Esperem la vostra assistència i les vostres inquietuds en aquest àmbit.
Secció Catalana de Metrologia
SOL·LICITUD D’INSCRIPCIÓ
Cal que formalitzeu la inscripció abans de l’1 d’abril emplenant el següent formulari.
Quota d’inscripció:
— Socis de la Societat Catalana de Tecnologia: gratuïta
— No socis: 50 euros
Informació:
Societat Catalana de Tecnologia
Tel. 935 529 106 A/e: sct@iec.catUs informem que les vostres dades seran incorporades a un tractament que és responsabilitat de l’Institut d’Estudis Catalans (IEC) amb la finalitat de gestionar l’activitat a la qual us inscriviu. Les vostres dades no seran cedides a tercers, i un cop finalitzada l’activitat es conservaran als efectes de registre històric. Per a més informació podeu adreçar-vos a la nostra Política de Privacitat. Podeu exercir els drets d’accés, rectificació, supressió, oposició, limitació en el tractament i portabilitat, adreçant-vos per escrit a l’Institut d’Estudis Catalans (carrer del Carme, 47, 08001 Barcelona), o bé enviant un correu electrònic a l’adreça dades.personals@iec.cat.
El pròxim 7 de novembre de 2019 un dels vocals de la Secció realitzarà una xerrada en l’àmbit de la Metrologia en la seu de l’IQS organitzada pe l’AIQSèniors.
Per més informació cliqueu en enllaç
Us informem que els companys de la societat catalana de física (enllaç) realitzaran una conferència relacionada amb la metrologia el proper dia 20 de maig de 2019 en les instal·lacions del IEC, impartida per la Dra. Estefanía de Mirandés.
La conferencia té per títol ” La revisió del Sistema Internacional d’Unitats” i s’engloba dins el cicle “Física Oberta”.
Podeu accedir a la noticia clicant aquí.
El passat dissabte dia 19 de maig es va celebrar a la sala d’actes de l’EPSEVG el Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig).
Aquesta és la primera jornada organitzada per la Secció Catalana de Metrologia (SCM) en el Campus de Vilanova i la Geltrú de la Universitat Politècnica de Catalunya. La jornada duia per nom “El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant” i va constar de dues parts: l’objectiu de la primera va ser donar a conèixer les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i a la segona es van donar nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i d’educació superior.
Les tres ponències van donar peu al diàleg sobre les noves metodologies docents i per altra banda al debat sobre la normalització del sistema internacional de mesures.
Us convidem a assistir a la primera jornada amb motiu del Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig), que se celebra el proper dissabte 19 de maig, al campus universitari de la Universitat Politècnica de Catalunya a Vilanova i la Geltrú (EPSEVG).
Enllaç de la jornada :https://goo.gl/forms/i29iMIbOYdox0BUc2
La jornada es denomina El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant i està dividida en dues parts: l’objectiu de la primera és comprendre millor les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i en la segona es donaran nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i educació superior.
La metrologia es defineix com la ciència del mesurament. Considerant que els mesuraments estan implicats en bona part de les activitats científiques, tècniques, preventives (salut, seguretat, medi ambient) i quotidianes, aquesta definició posa en relleu les dues característiques bàsiques de l’activitat.
D’una banda, és una activitat d’infraestructura, que difícilment es veu directament i que està amagada com a suport de gairebé totes les activitats humanes, tant en la producció com en el consum i en la distribució. Això implica que els metròlegs participin, ben directament, en activitats tan diverses com la protecció de la salut humana (radiacions ionitzants —accidentals, laborals, en diagnòstic i tractament—, il·luminació, soroll, anàlisis clíniques, pesatge en diàlisi o pesatge de prematurs, etc.), la protecció de la seguretat (mesures relacionades amb el trànsit —velocitat, alcohol—, mesures d’aforament de locals), la protecció del medi ambient (mesures de contaminants), la protecció del comerç (exactitud en les transaccions comercials) i tot el que està relacionat amb l’assegurament de la qualitat en les diferents activitats productives. Això comportaque els metròlegs estiguin en contacte i col·laborin amb professionals molt diferents que, en molts casos, no tenen un perfil tècnic.
De l’altra, és una activitat transversal a les disciplines clàssiques que aplega físics, químics, biòlegs, farmacèutics, professionals clínics en general i professionalsde totes les branques de l’enginyeria, i que obté el seu caràcter específic precisament de les interaccions entre ells. Una de les coses que més satisfacció aporta als metròlegs és la seva pròpia diversitat.
A escala internacional, aquesta diversitat es reflecteix en el fet que l’organisme bàsic de consens no és una única organització sinó un conjunt, en el qual, si deixem de banda les organitzacions governamentals metrològiques (Oficina Internacional de Pesos i Mesures, Organització Internacional de Metrologia Legal i WELMEC- CooperacióEuropea en Metrologia Legal) i les de normalització (Organització Internacional per a la Normalització, Comissió Electrotècnica Internacional), apareixen com a unions professionals la Unió Internacional de Física Pura i Aplicada, la Unió Internacional de Química Pura i Aplicada i la Federació Internacional de Química Clínica i Medicina del Laboratori, que posen de manifest aquesta diversitat d’orígens i aplicacions.
La Secció Catalana de Metrologia (SCM) va néixer dins la Societat Catalana de Tecnologia (SCT), que pertany a l’Institut d’Estudis Catalans (IEC). Fou creada per la manca d’un punt d’unió entre els diferents professionals de la metrologia, que a Catalunya i als altres territoris de llengua catalana es troben dispersos en les activitats damunt dites, tant en universitats i centres de recerca com en empreses públiques o privades que es dediquen principalment a la metrologia en alguns camps tècnics particulars (laboratoris de calibratge, fabricants d’instruments de mesura, metrologia legal), en d’altres que no s’hi dediquen però que tenen necessitats metrològiques especials i fins i tot encara més infraestructura, en activitats d’acreditació d’aquests laboratoris, en l’Administració de la metrologia legal i en la docència de la metrologia. En conseqüència, la Secció Catalana de Metrologia vol esdevenir un nexe d’unió en la comunitat de metròlegs.
Del 6 al 9 de juny de 2017 es va celebrar el 6è Congrés Espanyol de Metrologia a la ciutat de San Fernando (Cadis). La Secció Catalana de Metrologia va presentar un pòster amb el títol: «El meridiano Dunkerque-Barcelona y la metrología en catalán».
A banda de la presentació del pòster, es va explicar l’existència de la Secció a ens estatals com ara el CEM (Centro Español de Metrologia) i l’ENAC (Entidad Nacional de Acreditación). La presentació va tenir una molt bona acollida general.
El 27 de gener de 2017 es presentà, amb gran èxit d’assistents, la Secció Catalana de Metrologia (SCM). El gran interès mostrat pels professionals del món de la metrologia es posà de manifest amb el nombre d’inscripcions rebudes, que féu que la sala quedés petita. És per això que, en primer lloc, volem mostrar la satisfacció per l’acompanyament en els primers passos de la SCM i agrair la nombrosa assistència, sense deixar de demanar disculpes a les persones inscrites que finalment no van poder assistir a la jornada.
L’acte inaugural de la Secció Catalana de Metrologia s’inicià amb el president de l’IEC, el Sr. Joandomènec Ros, qui mostrà la seva satisfacció per ampliar l’àmbit de l’IEC amb nous camps tècnics. A continuació, la presidenta de la Societat Catalana de Tecnologia, la Sra. Núria Salán, va donar la benvinguda als professionals de la metrologia i va animar la gent assistent a l’acte a participar en aquesta nova secció. Per últim, el subdirector general de Seguretat Industrial, el Sr. Isidre Masalles, en nom de la Generalitat de Catalunya, donà suport a la nova secció i recalcà la importància d’aquesta ciència dins la nostra societat.
La jornada continuà amb tres ponències: una per a fer una presentació global de la metrologia, una altra per a presentar la Secció Catalana de Metrologia, i una darrera per a donar una visió històrica de la metrologia.
La primera ponència fou presentada pel Sr. José Sánchez, que féu una visió global de la metrologia des dels inicis de les mesures i la necessitat d’obtenir un patró de mesura —vital per a poder establir relacions comercials— fins als nostres dies, on s’arriben a establir tres àrees dins la metrologia: la científica, la part de qualitat i la metrologia legal. Tot això complementat amb la presentació de termes metrològics d’ús freqüent i fent èmfasi en la seva correcta aplicació.
La ponència de presentació de la nova Secció Catalana de Metrologia fou exposada pel Sr. Albert Garcia amb la finalitat de donar a conèixer la SCM. En primer lloc, la ubicà dins el paraigua de l’Institut d’Estudis Catalans i la Secció Catalana de Tecnologia, ja que són els ens que li donen caràcter legal i reconeixement a Catalunya. Una cop ubicada, es van presentar alguns dels seus objectius de la Secció: difondre la metrologia en llengua catalana, ser punt de trobada de metròlegs, i ésser dinamitzadora de la difusió de la metrologia dins els estudis de secundària.
Aquests objectius són la base que donen lloc al seguit d’activitats que es varen presentar. Cal destacar la importància d’acollir nous socis per poder assolir els objectius. Tant el suport no actiu, ja que potser no es disposa del temps necessari, com el més actiu de tots són necessaris en aquest moments d’inici del camí de la Secció Catalana de Metrologia, i us animem que us hi inscriviu per saber que hi sou i que no sou només lectors d’articles virtuals.
La ponència que tancà la jornada fou presentada pel Sr. Eugeni Vilalta i portà per títol «Moments metrològics». De manera distesa, féu un veloç repàs metrològic que ens portà des de l’any -4000 a l’any 2018, en què s’aturà en moments concrets i detalls històrics per demostrar que la metrologia és una ciència que ens ha acompanyat durant tota la història de la humanitat sense adonar-nos-en. Plantejà l’evolució de la definició de les unitats en el temps fins a arribar a les unitats naturals basades en constants universals.
Jornada de Metrologia a Catalunya
Ubicació: Institut d’Estudis Catalans (C. del Carme, 47, 08001 Barcelona)
Sala: Pi i Sunyer
Data: 27 de gener de 2017
Recordeu que us hi heu de registrar i confirmar l’assistència mitjançant el formulari següent:
Tancament d’inscripcions per sobrepassar l’ocupació de la sala. Totes les persones que encara hi estiguin interessades, poden inscriure’s com a mostra d’interès per rebre la documentació de la jornada.
Accés al formulari d’inscripció (tancat)
Les dades facilitades en aquest formulari s’empraran únicament per a contactar-vos en cas de canvis en la planificació inicial, així com per a comptabilitzar els assistents.
PROGRAMA
9.00-9.30 h: Inauguració
A càrrec de:
9.45-11.30 h: Sessió 1
Ponents: José Sánchez, Albert Garcia
Presentació de la Secció Catalana de Metrologia. Albert Garcia [PDF]
Visió global de la metrologia. José Sánchez [PDF]
11.30-12.00 h: Descans i refrigeri
Ubicació: pati de l’IEC
12.00-13.00 h: Sessió 2
Ponent: Eugeni Vilalta
Moments metrològics [PDF]
Cloenda de la jornada
A càrrec de: Núria Salán Ballesteros (Presidenta de la SCT)