Jornada de Metrologia a Catalunya
Ubicació: Institut d’Estudis Catalans (C. del Carme, 47, 08001 Barcelona)
Sala: Pi i Sunyer
Data: 27 de gener de 2017
Recordeu que us hi heu de registrar i confirmar l’assistència mitjançant el formulari següent:
Tancament d’inscripcions per sobrepassar l’ocupació de la sala. Totes les persones que encara hi estiguin interessades, poden inscriure’s com a mostra d’interès per rebre la documentació de la jornada.
Accés al formulari d’inscripció (tancat)
Les dades facilitades en aquest formulari s’empraran únicament per a contactar-vos en cas de canvis en la planificació inicial, així com per a comptabilitzar els assistents.
PROGRAMA
9.00-9.30 h: Inauguració
A càrrec de:
- Joandomènec Ros Aragonès (President de l’Institut d’Estudis Catalans)
- Núria Salán Ballesteros (Presidenta de la Societat Catalana de Tecnologia)
- Isidre Masalles i Roman (Subdirector general de Seguretat Industrial)
9.45-11.30 h: Sessió 1
Ponents: José Sánchez, Albert Garcia
- Presentacions:
- Visió global de la metrologia
- Presentació en societat del grup de metrologia
- Taula rodona oberta a tots els assistents
Presentació de la Secció Catalana de Metrologia. Albert Garcia [PDF]
Visió global de la metrologia. José Sánchez [PDF]
11.30-12.00 h: Descans i refrigeri
Ubicació: pati de l’IEC
12.00-13.00 h: Sessió 2
Ponent: Eugeni Vilalta
- Presentació:
- «Moments de la història metrològica de la humanitat i dels catalans»
- Taula rodona oberta a tots els assistents
Moments metrològics [PDF]
Cloenda de la jornada
A càrrec de: Núria Salán Ballesteros (Presidenta de la SCT)