VI Jornada d’Innovació de l’Ensenyament de la Tecnologia: ‘Connecta la tecnologia amb la didàctica i la vida’

Us informem que els dies 1 i 2 de juliol, la Societat Catalana de Tecnologia (SCT), el Centre de Recursos Pedagògics Específics de Suport a la Innovació i la Recerca Educativa (CESIRE) i l’Escola Superior d’Enginyeries Industrial, Aeroespacial i Audiovisual de Terrassa (ESEIAAT) us convidem a assistir a les VI Jornades d’Innovació a l’Ensenyament de la Tecnologia: «Connecta la tecnologia amb la didàctica i la vida», en la que hi haurà cabuda per la Metrologia en una sessió el dia 1.

Després d’un curs en el qual hem evidenciat que important que és cuidar les connexions personals i professionals a la nostra vida, des de la secció del professorat de secundària de la SCT volem tornar a donar un impuls a aquesta tasca de mantenir el contacte entre els docents que treballem la tecnologia a l’educació secundària.

Els docents volem ser un dels principals actors en la construcció d’una visió i un cos d’experiències i coneixements compartits en el camp de l’educació tecnològica. Volem que aquestes jornades siguin un punt de trobada i reflexió per al professorat de tecnologia, un espai (que encara enguany haurà de ser telemàtic) per a poder compartir. Compartir estratègies didàctiques, recursos motivadors, experiències puntuals o idees generals…, tot allò que ens permeti continuar millorant i emocionant-nos amb la nostra feina. Tot allò que ens ajudi a seguir creant una comunitat de suport a la complexa tasca de fer que el nostre alumnat creixi, aprengui i gaudeixi com ho fem nosaltres connectant la tecnologia amb la vida.

Podeu trobar tota la informació en el següent enllaç:

Enllaç.

 

JORNADA DE FORMACIÓ DEL CEM SOBRE L’ORDRE ICT/155/2020

Us volem comunicar que el proper dia 30 de juny de 2021 el CEM ofereix una formació de metrologia legal relacionada amb l’ordre ICT/155/2020. Des de l’aparició d’aquesta ordre que afecta als instruments de mesura regulats pel l’estat s’han detectat dificultats en la seva aplicació, i també aconsellen la seva actualització l’avenç tecnològic i l’aparició de noves legislacions sectorials.

La jornada gratuïta del CEM està presentada per experts de diferents organitzacions relacionades amb la metrologia legal, i la finalitat de la jornada és analitzar aquests problemes i debatre les possibles solucions.

Per més informació cliqueu al enllaç.

Secció Catalana de Metrologia