El dimarts 20 de maig de 2025, per celebrar el Dia Mundial de la Metrologia realitzarem una jornada a les instal·lacions de Mettler Toledo, amb una durada aproximada de 3 h.
El motiu de la trobada és la celebració anual del Dia Mundial de la Metrologia que aquest any, coincidint amb el 150è aniversari de la creació del BIPM, té la divisa “Per a tots els pobles, per a tots els temps”. Aquest any és dona la coincidència amb l’Any Internacional de la Ciència i la Tecnologia Quàntiques, essent el centenari de la formulació del 1925.
La data màxima d’inscripció en la jornada és el 11 de maig de 2025. La inscripció es realitzarà mitjançant un formulari, que podeu trobar en aquest enllaç.
Programa
| 9:30 – 10:00 | Benvinguda als assistents, entrega de certificats d’assistència | |
| 10:00 – 10:10 | Apertura de la jornada a càrrec del Sr. Regalés, president de la Societat Catalana de Tecnologia | |
| 10:10 – 10:40 | Presentació: “Metrologia i Món Quàntic” per Eugeni Vilalta | |
| 10:40 – 11:10 | Presentació: “La Metrologia Forense” per Josep Maria Arqués | |
| 11:10 – 11:30 | Presentació a càrrec de Mettler Toledo pel Director General de Mettler Toledo a Espanya el Sr. Oscar Dijort | |
| 11:30 – 12:25 | Visita instal·lacions de Mettler Toledo que inclou el calibratge de masses i pipetes, això com l’espai de demostració d’equips d’inspecció en dinàmic de producte envasat (control i contaminacions RX) | |
| 12:25 – 12:30 | Clausura de la jornada a càrrec del Sr. Regalés, president de la Societat Catalana de Tecnologia | |
| 12:30 – 13:00 | Refrigeri |
Inscripció
La inscripció és gratuïta i oberta a tothom, però amb un aforament màxim de 75 persones que es concertarà en funció de la data de sol·licitud. Destacar, que els membres de la Secció Catalana de Metrologia i de la Societat Catalana de Tecnologia de l’Institut d’Estudis Catalans gaudiran de prioritat vers els sol·licitants no socis.