SEMINARI ILAC G8:2019

Us convidem a assistir al seminari sobre la guia sobre regles de decisió i declaració de la conformitat (ILAC G8), en la nova edició del 2019, i els documents que li donen suport científic. El seminari tindrà lloc el 3 d’abril de 2020 a la seu de l’Institut d’Estudis Catalans (c. del Carme, 47, de Barcelona).

La finalitat del seminari és explicar les variacions principals del document, completar l’exposició amb informació addicional derivada del que expliquen els documents bàsics, i analitzar-lo des del punt de vista del metròleg.

El programa del seminari és:

9.30-10.00 h Recepció
10.00-10.15 h Benvinguda
10.15-12.00 h Introducció, canvis en la ILAC G8 i documents de suport
12.00-12.30 h Refrigeri
12.30-13.00 h Taula rodona i torn obert de paraules
13.00-13.15 h Finalització del seminari

 

Esperem la vostra assistència i les vostres inquietuds en aquest àmbit.

Secció Catalana de Metrologia

SOL·LICITUD D’INSCRIPCIÓ

 

Cal que formalitzeu la inscripció abans de l’1 d’abril emplenant el següent formulari.

 

Quota d’inscripció:

— Socis de la Societat Catalana de Tecnologia: gratuïta

— No socis: 50 euros

 

Informació:

Societat Catalana de Tecnologia
Tel. 935 529 106 A/e: sct@iec.cat

Us informem que les vostres dades seran incorporades a un tractament que és responsabilitat de l’Institut d’Estudis Catalans (IEC) amb la finalitat de gestionar l’activitat a la qual us inscriviu. Les vostres dades no seran cedides a tercers, i un cop finalitzada l’activitat es conservaran als efectes de registre històric. Per a més informació podeu adreçar-vos a la nostra Política de Privacitat. Podeu exercir els drets d’accés, rectificació, supressió, oposició, limitació en el tractament i portabilitat, adreçant-vos per escrit a l’Institut d’Estudis Catalans (carrer del Carme, 47, 08001 Barcelona), o bé enviant un correu electrònic a l’adreça dades.personals@iec.cat.

Seminari-ILAG-G8-2019-

Convocatòria reunió anual 2019 SCT-Metrologia

Benvolguts/Benvolgudes,

Ens plau convidar els membres de la Societat Catalana de Tecnologia a la reunió anual de la Secció Catalana de Metrologia (SCT-Metrologia), per fer balanç de l’estat de la Secció, així com del seu futur.

 

La reunió es durà a terme a l’espai Ramon Llull de l’Institut d’Estudis Catalans (carrer del Carme, 47, de Barcelona), el dia 20 de novembre, a les 19 hores.

L’ordre del dia de la reunió és el següent:

  1. Presentació de les activitats del curs 2019-2020.
  2. Presentació de la memòria d’activitats del 2019.
  3. Torn obert de paraules.

Per a una gestió correcta de l’espai de la sala, les persones que desitgin assistir-hi han d’emplenar el formulari següent https://www.iec.cat/jornades/reuniometrologia2019.asp.

 

Així mateix, en el següent enllaç trobareu una enquesta que té com a finalitat disposar d’informació dels socis i, així, poder dirigir l’activitat de la Secció de cara a l’any vinent.

 

Cordialment,

 

Secció Catalana de Metrologia

scmetro-sct@correu.iec.cat

Celebració del Dia Mundial de la Metrologia 2019

El 21 de maig de 2019 a les instal·lacions del Centre de Cultura Contemporània de Barcelona (CCCB) la Secció Catalana de Metrologia va dur a terme la jornada de celebració del Dia Mundial de la Metrologia a Catalunya.

 

Aprofitant l’entrada en vigor de les noves definicions del sistema internacional d’unitats (SI), es va fer una presentació amb un recorregut per la història de les unitats i l’evolució de les seves definicions. Una altra de les presentacions va mostrar com s’ha aprofitat l’evolució de la ciència i l’ús de la física quàntica en la definició i la materialització del nou SI. Finalment, vam poder veure com es pot arribar a trobar les constants d’Avogadro i de Planck a través d’unes mesures macroscòpiques mitjançant un cub d’alumini i elements de mesurament quotidians.

 

Al final de les presentacions es va obrir un debat, en què els assistents van poder aclarir els dubtes i posar de manifest les inquietuds que tenien.

 

A banda d’aquestes presentacions vam poder gaudir d’una visita guiada a l’exposició «Quàntica», que hi ha al CCCB fins al 24 de setembre.

 

Agraïm la col·laboració de l’IEC. Donem les gràcies també al CCCB, d’una banda, per deixar-nos les instal·lacions per a la jornada i, de l’altra, per la gran organització.

Conferència de caire metrològic de la SCF

Us informem que els companys de la societat catalana de física (enllaç) realitzaran una conferència relacionada amb la metrologia el proper dia 20 de maig de 2019 en les instal·lacions del IEC, impartida per la Dra. Estefanía de Mirandés.

La conferencia té per títol ” La revisió del Sistema Internacional d’Unitats” i s’engloba dins el cicle “Física Oberta”.

Podeu accedir a la noticia clicant aquí.

II Jornada de Celebració del Dia Mundial de la Metrologia (DMM2019)

Us convidem a assistir a la segona jornada amb motiu del Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig), que se celebra el proper dimarts 21 de maig, al Centre de Cultura Contemporània de Barcelona (CCCB).

La jornada es denomina «El Sistema Internacional d’Unitats – Fonamentalment millor» i està dividida en dues parts: l’objectiu de la primera en l’explicació del motiu del canvi de la definició del sistema d’unitats i una altra sessió d’introducció de la quàntica en l’àmbit de la metrologia, i en la segona on es proposa un cas pràctic on es calcularan diverses constants internacionals així com una visita guiada per la exposició del CCCB amb títol «Quàntica. A la cerca de l’invisible».

II Jornada de Celebració del Dia Mundial de la Metrologia (DMM2019)

«El Sistema Internacional d’Unitats – Fonamentalment millor»

Dia: dimarts 21 de maig de 2019

Hora: 18 hores

Lloc: Centre de Cultura Contemporània de Barcelona, CCCB (c. Montalegre, 5, de Barcelona 08001. Com arribar-hi)

PROGRAMA

  • Rebuda
  • Sessió 1. Canvi de definicions del sistema internacional (SI). Ponent: Maite Pueyo.
  • Sessió 2. Adaptació de la metrologia als fonaments quàntics. Ponent: Eugeni Vilalta
  • Activitat Cub d’alumini (enllaç)
  • Visita guiada a l’exposició «Quàntica. A la cerca de l’invisible» (enllaç)

 

L’assistència a la jornada és gratuïta, però cal que formalitzeu la inscripció abans del 17 de maig emplenant aquest formulari telemàtic.

 

Organitza: Secció Catalana de Metrologia de la Societat Catalana de Tecnologia

La metrologia es defineix com la ciència del mesurament. Considerant que els mesuraments estan implicats en bona part de les activitats científiques, tècniques, preventives (salut, seguretat, medi ambient) i quotidianes, aquesta definició posa en relleu les dues característiques bàsiques de l’activitat.

D’una banda, és una activitat d’infraestructura, que difícilment es veu directament i que està amagada com a suport de gairebé totes les activitats humanes, tant en la producció com en el consum i en la distribució. Això implica que els metròlegs participin, ben directament, en activitats tan diverses com la protecció de la salut humana (radiacions ionitzants —accidentals, laborals, en diagnòstic i tractament—, il·luminació, soroll, anàlisis clíniques, pesatge en diàlisi o pesatge de prematurs, etc.), la protecció de la seguretat (mesures relacionades amb el trànsit —velocitat, alcohol—, mesures d’aforament de locals), la protecció del medi ambient (mesures de contaminants), la protecció del comerç (exactitud en les transaccions comercials) i tot el que està relacionat amb l’assegurament de la qualitat en les diferents activitats productives. Això comporta que els metròlegs estiguin en contacte i col·laborin amb professionals molt diferents que, en molts casos, no tenen un perfil tècnic.

De l’altra, és una activitat transversal a les disciplines clàssiques que aplega físics, químics, biòlegs, farmacèutics, professionals clínics en general i professionals de totes les branques de l’enginyeria, i que obté el seu caràcter específic precisament de les interaccions entre ells. Una de les coses que més satisfacció aporta als metròlegs és la seva pròpia diversitat.

A escala internacional, aquesta diversitat es reflecteix en el fet que l’organisme bàsic de consens no és una única organització sinó un conjunt, en el qual, si deixem de banda les organitzacions governamentals metrològiques (Oficina Internacional de Pesos i Mesures, Organització Internacional de Metrologia Legal i WELMEC – Cooperació Europea en Metrologia Legal) i les de normalització (Organització Internacional per a la Normalització, Comissió Electrotècnica Internacional), apareixen com a unions professionals la Unió Internacional de Física Pura i Aplicada, la Unió Internacional de Química Pura i Aplicada i la Federació Internacional de Química Clínica i Medicina del Laboratori, que posen de manifest aquesta diversitat d’orígens i aplicacions.

La Secció Catalana de Metrologia (SCMetro-SCT) va néixer dins la Societat Catalana de Tecnologia (SCT), que pertany a l’Institut d’Estudis Catalans (IEC). Fou creada per la manca d’un punt d’unió entre els diferents professionals de la metrologia, que a Catalunya i als altres territoris de llengua catalana es troben dispersos en les activitats damunt dites, tant en universitats i centres de recerca com en empreses públiques o privades que es dediquen principalment a la metrologia en alguns camps tècnics particulars (laboratoris de calibratge, fabricants d’instruments de mesura, metrologia legal), en d’altres que no s’hi dediquen però que tenen necessitats metrològiques especials i fins i tot encara més d’infraestructura, en activitats d’acreditació d’aquests laboratoris, en l’Administració de la metrologia legal i en la docència de la metrologia. En conseqüència, la Secció Catalana de Metrologia vol esdevenir un nexe d’unió en la comunitat de metròlegs.

 

Segona entrega del Butlletí de Metrologia

Us informem que properament s’enviarà la segona edició del butlletí de la secció. En aquest volum trobareu informació sobre:

  • Interpretació de la NT-86
  • El sistema integrat de la 17025 i 17020

I molta més informació rellevant relacionada amb la metrologia.

 

Us recordem que aquesta segona entrega només s’enviarà als socis de la secció i de la Societat Catalana de Tecnologia del IEC, per tant si encara no sou socis i voleu ser-ho,

No ho dubteu, aquí teniu l’enllaç d’inscripció!

FER-VOS SOCI / SÒCIA

Convocatòria anual de la secció de Metrologia 2018

Benvolguts, / Benvolgudes,

Ens plau convidar els membres de la Societat Catalana de Tecnologia a la reunió anual de la Secció Catalana de Metrologia (SCT-Metrologia), per fer un balanç de l’estat de la Secció així com del seu futur.

 

La reunió es durà a terme a la sala Puig i Cadafalch de l’Institut d’Estudis Catalans, el proper 14 de novembre, a les 18 hores.

L’ordre del dia de la reunió és el següent:

  1. Presentació de la memòria anual d’activitats de l’SCT-Metrologia.
  2. Renovació i/o ampliació de vocals de l’SCT-Metrologia, així com exposició de les directrius d’organització.
  3. Presentació de les futures activitats de la Secció.
  4. Torn de preguntes i debat.

Per a una correcte gestió de l’espai de la sala, les persones que desitgin assistir-hi han d’emplenar el formulari següent:
https://www.iec.cat/jornades/metrologia2018.asp

 

DIA MUNDIAL DE LA METROLOGIA 2018 A VILANOVA I LA GELTRÚ

El passat dissabte dia 19 de maig es va celebrar a la sala d’actes de l’EPSEVG el Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig).

Aquesta és la primera jornada organitzada per la Secció Catalana de Metrologia (SCM) en el Campus de Vilanova i la Geltrú de la Universitat Politècnica de Catalunya. La jornada duia per nom “El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant” i va constar de dues parts: l’objectiu de la primera va ser donar a conèixer les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i a la segona es van donar nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i d’educació superior.

Redefinir i refinar

El SI d’unitats

Didàctica

Les tres ponències van donar peu al diàleg sobre les noves metodologies docents i per altra banda al debat sobre la normalització del sistema internacional de mesures.

https://web3.epsevg.upc.edu/ecomunicats/pdipas/novetat.php?idn=4977&utm_source=hemeroteca&utm_campaign=504&utm_medium=4977

CELEBRACIÓ DEL DIA MUNDIAL DE LA METROLOGIA A VILANOVA

Us convidem a assistir a la primera jornada amb motiu del Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig), que se celebra el proper dissabte 19 de maig, al campus universitari de la Universitat Politècnica de Catalunya a Vilanova i la Geltrú (EPSEVG).

Enllaç de la jornada :https://goo.gl/forms/i29iMIbOYdox0BUc2

La jornada es denomina El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant i està dividida en dues parts: l’objectiu de la primera és comprendre millor les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i en la segona es donaran nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i educació superior.

La metrologia es defineix com la ciència del mesurament. Considerant que els mesuraments estan implicats en bona part de les activitats científiques, tècniques, preventives (salut, seguretat, medi ambient) i quotidianes, aquesta definició posa en relleu les dues característiques bàsiques de l’activitat.

D’una banda, és una activitat d’infraestructura, que difícilment es veu directament i que està amagada com a suport de gairebé totes les activitats humanes, tant en la producció com en el consum i en la distribució. Això implica que els metròlegs participin, ben directament, en activitats tan diverses com la protecció de la salut humana (radiacions ionitzants —accidentals, laborals, en diagnòstic i tractament—, il·luminació, soroll, anàlisis clíniques, pesatge en diàlisi o pesatge de prematurs, etc.), la protecció de la seguretat (mesures relacionades amb el trànsit —velocitat, alcohol—, mesures d’aforament de locals), la protecció del medi ambient (mesures de contaminants), la protecció del comerç (exactitud en les transaccions comercials) i tot el que està relacionat amb l’assegurament de la qualitat en les diferents activitats productives. Això comportaque els metròlegs estiguin en contacte i col·laborin amb professionals molt diferents que, en molts casos, no tenen un perfil tècnic.

De l’altra, és una activitat transversal a les disciplines clàssiques que aplega físics, químics, biòlegs, farmacèutics, professionals clínics en general i professionalsde totes les branques de l’enginyeria, i que obté el seu caràcter específic precisament de les interaccions entre ells. Una de les coses que més satisfacció aporta als metròlegs és la seva pròpia diversitat.

A escala internacional, aquesta diversitat es reflecteix en el fet que l’organisme bàsic de consens no és una única organització sinó un conjunt, en el qual, si deixem de banda les organitzacions governamentals metrològiques (Oficina Internacional de Pesos i Mesures, Organització Internacional de Metrologia Legal i WELMEC- CooperacióEuropea en Metrologia Legal) i les de normalització (Organització Internacional per a la Normalització, Comissió Electrotècnica Internacional), apareixen com a unions professionals la Unió Internacional de Física Pura i Aplicada, la Unió Internacional de Química Pura i Aplicada i la Federació Internacional de Química Clínica i Medicina del Laboratori, que posen de manifest aquesta diversitat d’orígens i aplicacions.

La Secció Catalana de Metrologia (SCM) va néixer dins la Societat Catalana de Tecnologia (SCT), que pertany a l’Institut d’Estudis Catalans (IEC). Fou creada per la manca d’un punt d’unió entre els diferents professionals de la metrologia, que a Catalunya i als altres territoris de llengua catalana es troben dispersos en les activitats damunt dites, tant en universitats i centres de recerca com en empreses públiques o privades que es dediquen principalment a la metrologia en alguns camps tècnics particulars (laboratoris de calibratge, fabricants d’instruments de mesura, metrologia legal), en d’altres que no s’hi dediquen però que tenen necessitats metrològiques especials i fins i tot encara més infraestructura, en activitats d’acreditació d’aquests laboratoris, en l’Administració de la metrologia legal i en la docència de la metrologia. En conseqüència, la Secció Catalana de Metrologia vol esdevenir un nexe d’unió en la comunitat de metròlegs.