Us convidem a assistir a la primera jornada amb motiu del Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig), que se celebra el proper dissabte 19 de maig, al campus universitari de la Universitat Politècnica de Catalunya a Vilanova i la Geltrú (EPSEVG).
Enllaç de la jornada :https://goo.gl/forms/i29iMIbOYdox0BUc2
La jornada es denomina El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant i està dividida en dues parts: l’objectiu de la primera és comprendre millor les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i en la segona es donaran nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i educació superior.
La metrologia es defineix com la ciència del mesurament. Considerant que els mesuraments estan implicats en bona part de les activitats científiques, tècniques, preventives (salut, seguretat, medi ambient) i quotidianes, aquesta definició posa en relleu les dues característiques bàsiques de l’activitat.
D’una banda, és una activitat d’infraestructura, que difícilment es veu directament i que està amagada com a suport de gairebé totes les activitats humanes, tant en la producció com en el consum i en la distribució. Això implica que els metròlegs participin, ben directament, en activitats tan diverses com la protecció de la salut humana (radiacions ionitzants —accidentals, laborals, en diagnòstic i tractament—, il·luminació, soroll, anàlisis clíniques, pesatge en diàlisi o pesatge de prematurs, etc.), la protecció de la seguretat (mesures relacionades amb el trànsit —velocitat, alcohol—, mesures d’aforament de locals), la protecció del medi ambient (mesures de contaminants), la protecció del comerç (exactitud en les transaccions comercials) i tot el que està relacionat amb l’assegurament de la qualitat en les diferents activitats productives. Això comportaque els metròlegs estiguin en contacte i col·laborin amb professionals molt diferents que, en molts casos, no tenen un perfil tècnic.
De l’altra, és una activitat transversal a les disciplines clàssiques que aplega físics, químics, biòlegs, farmacèutics, professionals clínics en general i professionalsde totes les branques de l’enginyeria, i que obté el seu caràcter específic precisament de les interaccions entre ells. Una de les coses que més satisfacció aporta als metròlegs és la seva pròpia diversitat.
A escala internacional, aquesta diversitat es reflecteix en el fet que l’organisme bàsic de consens no és una única organització sinó un conjunt, en el qual, si deixem de banda les organitzacions governamentals metrològiques (Oficina Internacional de Pesos i Mesures, Organització Internacional de Metrologia Legal i WELMEC- CooperacióEuropea en Metrologia Legal) i les de normalització (Organització Internacional per a la Normalització, Comissió Electrotècnica Internacional), apareixen com a unions professionals la Unió Internacional de Física Pura i Aplicada, la Unió Internacional de Química Pura i Aplicada i la Federació Internacional de Química Clínica i Medicina del Laboratori, que posen de manifest aquesta diversitat d’orígens i aplicacions.
La Secció Catalana de Metrologia (SCM) va néixer dins la Societat Catalana de Tecnologia (SCT), que pertany a l’Institut d’Estudis Catalans (IEC). Fou creada per la manca d’un punt d’unió entre els diferents professionals de la metrologia, que a Catalunya i als altres territoris de llengua catalana es troben dispersos en les activitats damunt dites, tant en universitats i centres de recerca com en empreses públiques o privades que es dediquen principalment a la metrologia en alguns camps tècnics particulars (laboratoris de calibratge, fabricants d’instruments de mesura, metrologia legal), en d’altres que no s’hi dediquen però que tenen necessitats metrològiques especials i fins i tot encara més infraestructura, en activitats d’acreditació d’aquests laboratoris, en l’Administració de la metrologia legal i en la docència de la metrologia. En conseqüència, la Secció Catalana de Metrologia vol esdevenir un nexe d’unió en la comunitat de metròlegs.
L’acte inaugural de la Secció Catalana de Metrologia s’inicià amb el president de l’IEC, el Sr. Joandomènec Ros, qui mostrà la seva satisfacció per ampliar l’àmbit de l’IEC amb nous camps tècnics. A continuació, la presidenta de la Societat Catalana de Tecnologia, la Sra. Núria Salán, va donar la benvinguda als professionals de la metrologia i va animar la gent assistent a l’acte a participar en aquesta nova secció. Per últim, el subdirector general de Seguretat Industrial, el Sr. Isidre Masalles, en nom de la Generalitat de Catalunya, donà suport a la nova secció i recalcà la importància d’aquesta ciència dins la nostra societat.
La ponència de presentació de la nova Secció Catalana de Metrologia fou exposada pel Sr. Albert Garcia amb la finalitat de donar a conèixer la SCM. En primer lloc, la ubicà dins el paraigua de l’Institut d’Estudis Catalans i la Secció Catalana de Tecnologia, ja que són els ens que li donen caràcter legal i reconeixement a Catalunya. Una cop ubicada, es van presentar alguns dels seus objectius de la Secció: difondre la metrologia en llengua catalana, ser punt de trobada de metròlegs, i ésser dinamitzadora de la difusió de la metrologia dins els estudis de secundària.